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荧光光谱测试仪又称分光仪,广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。
标准配置:
1. 原装电致冷Si-PINtanceqi
2. X射线光管模块
3. 高低压电源模块
4. 多道分析模块
5. 信噪比增强模块
6. 集成IPAD触摸屏
7. RoHS卤素软件系统
一台典型的光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分:
1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3. 色散元件: 通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。
荧光光谱测试仪技术参数:
|              测试范围  |                          RoHS, 卤素(硫S-铀U之间的元素)  |         
|              可测试样品的种类  |                          固体,液体,粉末  |         
|              检出限  |                          ≤2ppm;精度:±0.05%  |         
|              测试时间  |                          30-300s(可以任意调节)  |         
|              摄像定位系统  |                          800万真像素高清定位系统  |         
|              X射线光管使用寿命  |                          >20000小时  |         
|              探测器  |                          Amptek公司原装电致冷Si-PIN探测器; 分辨率 145ev±5ev  |         
|              高压电源  |                          0-50kev,0-2mA 50w  |         
|              准直滤光系统  |                          X射线光斑大小直径:φ1mm,φ3mm,φ5mm; 9种复合滤光系统  |         
|              工作环境温/湿度  |                          温度15-30℃ 湿度 ≤75%(不结露)  |         
|              输入电源  |                          AC220V±15% 50Hz  |         
|              额定功率  |                          150W 重量 33kg  |         
|              仪器尺寸  |                          670*400*330mm  |         
|              测试样品腔尺寸  |                          200*260*80mm  |         
专业RoHS指令有害元素和卤素快速,无损检测;一体机设计,内置工业计算机和IPAD触摸屏,无需另配电脑和显示器。
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